TL-HV

Fuente de alimentación de alta tensión CC

Alta tensión estable y de bajo rizado para electrohilado, con indicación digital de tensión y corriente, control local y múltiples protecciones.

TL-HV — Fuente de alimentación de alta tensión CCAmpliar imagen ↗
Chasis de 19 pulgadas para rack, 1U482 × 350 × 45 mm

Opciones de tensión de salida

Seleccione el modelo de salida positiva o negativa según su aplicación. La tensión máxima de salida depende del modelo.

  • +30 kV
  • +40 kV
  • +50 kV
  • −20 kV
  • −30 kV
  • −50 kV

Control, estabilidad y protección

Salida estable

Regulación de línea <0,1 %; regulación de carga <0,5 %.

Baja deriva

Estabilidad tras el calentamiento: ≤0,1 %/h.

Indicación digital

Indicador de tensión de 5 dígitos y de corriente de 4 dígitos.

Control local y remoto

Control local mediante potenciómetro en el panel frontal; opciones de E/S remotas disponibles.

Protecciones múltiples

Protección contra sobretensión, sobrecorriente, cortocircuitos, arcos y sobretemperatura.

Carcasa compacta de acero

Chasis ventilado de 1U para sistemas de electrohilado, plataformas de laboratorio y aplicaciones de alta tensión de precisión.

Especificaciones técnicas

ParámetroEspecificación
Alimentación de entrada90–264 VAC, 47–63 Hz
Tensión de salidaHasta +50 kV o −50 kV, según el modelo
Corriente de salida0–1 mA
Potencia máxima50 W
Coeficiente de temperatura≤0,1% / °C
Control de tensiónPotenciómetro en el panel frontal
Precisión de tensión*±0,05 % de la lectura + 2 dígitos
Precisión de corriente*±0,3 % de la lectura + 1 dígito
Temperatura de funcionamiento−10 ~ +50 °C
Temperatura de almacenamiento−40 ~ +85 °C
Humedad20–90 % HR, sin condensación
Interfaces opcionalesRS-232 / RS-485 · USB · LAN
Dimensiones482 × 350 × 45 mm

*A 25 °C y 45–75 % HR. Las especificaciones pueden variar según el modelo y la configuración.

Aplicaciones

  • Electrohilado
  • Investigación de materiales
  • Automatización de laboratorio
  • Ensayos de alta tensión

Cuéntenos qué desea fabricar.

Indíquenos el material, la estructura y el tamaño de muestra. Podemos estudiar la plataforma y la configuración adecuadas.

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